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介質(zhì)損耗測試儀的常見故障要怎么處理?

添加時間:2020-07-08 09:35:16   瀏覽次數(shù): 次    【 】   打印   關(guān)閉窗口

       介質(zhì)損耗測試儀也稱為抗干擾介質(zhì)損耗測試儀,采用變頻zhi電源技術(shù),利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算,自動化,智能化,測量數(shù)據(jù)在強(qiáng)干擾條件下是穩(wěn)定的,但測試數(shù)據(jù)在使用中顯然是不合理的通常如下。

       在現(xiàn)場測試時,用鉤桿對產(chǎn)品進(jìn)行檢測時,吊鉤須與試驗產(chǎn)品良好接觸,否則接觸件的排放會引起嚴(yán)重的數(shù)據(jù)波動,特別是在過厚的氧化層或空氣管擺動的排水管中導(dǎo)致接觸不良。

       接地不良也會引起儀表保護(hù)數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動,接地點的涂層應(yīng)報廢,零電阻接地。

       用端蓋法測量電磁式PT時,由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò)干擾引起的負(fù)介電損耗可以用常規(guī)法或端壓法測量,直接測量CVT的低耦合電容會導(dǎo)致負(fù)的介電損耗,因此應(yīng)采用自激法。

       由于長期使用,容易造成試驗線隱性短路,芯線屏蔽層短路或與插頭接觸不良,用戶應(yīng)始終維護(hù)測試線。當(dāng)測試標(biāo)準(zhǔn)電容器測試產(chǎn)品時,應(yīng)使用全屏蔽插頭來消除額外雜散電容的影響,否則,介質(zhì)損耗測試儀的精度就無法反映出來。自勵方法是測量VT中的C,非高壓線路應(yīng)暫停,否則,附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會導(dǎo)致地面測量誤差。

       使用萬用表測量測試電路是否開路,或芯線和屏蔽是否短路,輸入功率過高或過低,接地良好,使用正極或負(fù)極導(dǎo)線測量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標(biāo)準(zhǔn)電容器或電容器樣品,如果結(jié)果正確,則可判斷儀器故障。


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